S48C环件探伤不合原因分析及工艺改进

kisuo · 发表于 2024-2-20 14:21:13

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探伤不合是Ｓ48Ｃ环件判废的主要原因之一。为解决该环件探伤不合问题，首先针对S48Ｃ环件探伤不合的典型缺陷，进行金相和扫描电镜检测分析，确定缺陷的生成原因，然后制定方案进行现场工艺改进试验。

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[理化] S48C环件探伤不合原因分析及工艺改进