超声波探头的近表面盲区

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对超声波检测了解的人都知道，超声波检测时会存在检验盲区，在检验盲区范围内是检测不出来缺陷或者没法准确定量。
一般而言单晶直探头的近表面盲区主要是由于存在始脉冲引起的，一般检验灵敏度越高，始脉冲宽度越大，近表面盲区越多，一般能到20~30mm左右。对于单晶斜探头其近表面的盲区主要也是由始脉冲宽度引起的。  

   B4S 的DGS曲线

双晶探头的盲区不是始脉冲宽度引起的，因为基本上没有始脉冲，除非检验灵敏度特别高或者耦合不好导致出现始脉冲的。其近表面盲区主要是采用的DGS曲线基本上是从4mm(SEB2，SEB4, MSEB2)或者2.5mm(MSEB 4)开始。因此会出现在4mm之前出现缺陷波，但是没法进行判定。这也是其检验盲区。

SEB 4 的DGS曲线- 2mm EFBH


SEB2 的DGS 曲线从4mm开始


MSEB4 的DGS 曲线从2.5mm开始         

对于超声波探头的具体近表面盲区的了解对于制定检验工艺是有指导意义的，从原则上来说：
1，对于只能单面检验的，可以用双晶+单晶探头共用，可以尽可能减少近表面盲区的尺寸。
2，对于半精加工的产品，加工余量上要留出大于检验盲区的尺寸。
3，如果存在平行表面的检测面，可以采用双面都检验的方法。
4，对于高要求工件还可以在精加工添加MT或PT，保证检验盲区的有效检出。
5，对于DGS方法，如果出现明确的缺陷波出现在DGS曲线以外，则可以加工出要求的接收尺寸的对比试块进行对比判定。